Аналоги солнечных пятен далёких звёзд

Транзитный метод поиска экзопланет заключается в том, что астрономы фиксируют падение блеска далёких звёзд, когда на их фоне проходит внесолнечная планета. Зависимость яркости звезды от времени называется кривой блеска, и по её форме можно судить о параметрах планеты. Например, так определяют расстояние планеты от своей звезды и температуру её поверхности. А с помощью методов трансмиссионной спектроскопии учёные пытаются даже исследовать атмосферы далёких миров. Как правило, транзитная кривая блеска представляет собой плавное снижение яркости, когда планета начинает проходить перед диском звезды. Минимум яркости достигается, когда планета полностью находится перед звездой, а затем светимость плавно возрастает по мере завершения транзита. Однако время от времени кривая блеска становится более сложной: к основной линии добавляются мелкие провалы и пики. Учёные считают, что они связаны с тёмными и холодными участками на поверхности звезды, аналогичными солнечным пятнам. То есть это звёздные пятна. Они искажают данные, усложняют анализ и заметно портят жизнь исследователям экзопланет. Чтобы повысить точность таких наблюдений, необходимо максимально точно определить свойства родительской звезды и параметры всей системы: общий уровень звёздной пятнистости, угол наклона орбиты планеты, наклон оси вращения звезды относительно луча зрения и другие факторы. Изучая кривые блеска, астрономы пытаются картировать пятна далёких звёзд и уточнять параметры экзопланетных систем. В будущем это позволит повысить точность наблюдений уже существующих телескопов и миссий. Credit: NASA’s Goddard Space Flight Center